辐射干扰结构的常见原因

由于结构问题导致RE 测试通不过是实验室较常见的现象。 这是因为当产品形成以后各个设计环节都基本上成型了，通过打开机壳进行定位非常麻烦；结构的屏效直接与测试数据相关，在测试过程中只要怀疑哪个地方有泄漏，可以直接用近场扫描或者贴铜箔等方法确认，并且只要稍加处理就会起到立竿见影的效果。 总的说来主要是两个方面的问题：第一，由于开孔、开缝和屏蔽层穿透引起的屏蔽效能下降；第二，由于搭接引起的问题。第三， 结构的谐振。

开孔、开缝和屏蔽层穿透引起的屏效下降。在我们的测试过程中，因为结构上面通风、散热而开的孔、缝导致的辐射发射超标现象还没有出现。有时结构上面会开一些孔、缝，方便对外出线或者安装固定螺钉等。这种情况下很容易出现问题。因为虽然内部干扰不会直接通过窗体向外泄漏，但是可以耦合到穿过窗体的金属上，再通过金属对外辐射。要避免这种情况出现，必须将通过缝隙的金属与结构搭接紧密。譬如ONU F01D 系列产品的用户线，屏蔽层在出机柜时候一定要和出孔周围的金属网紧密搭接。

搭接问题引起的问题。由于结构件之间搭接引起的辐射发射超标问题是EMC 实验室中较常见的问题。 这可以包含为下面一些现象：

1 连接器和拉手条之间的搭接不良。

A 连接器和拉手条之间尺寸差距太大。

B 连接器和拉手条之间采用簧片搭接，但是簧片和拉手条接触不良。

C 连接器和拉手条之间通过导电橡胶圈搭接。 没有安装橡胶圈或者连接器的橡胶圈安装槽设计不合理（因为橡胶圈横截面是圆形，所以槽位也应该是圆形），甚至由于尺寸不合理橡胶圈无法安装。

D 拉手条表面有涂覆使得连接器的固定螺钉无法和拉手条形成电气搭接。 特别是在同轴连接器出口，拉手条上必须要为连接器预留出固定位置，形成电气搭接。

E 连接器和拉手条之间通过面－面搭接，但是搭接不紧密或者没有安装固定螺钉。

2 拉手条与拉手条之间接触不良。

拉手条由于插拔次数过多，拉手条上的簧片弹性降低或者已经氧化，或者导电布导电性能降低。目前我们公司对于拉手条一般采用导电布搭接方式。所谓导电布就是在纤维材料上面衬垫上金属颗粒。受插拔次数影响，这些颗粒会脱落，测试时候要考虑导电布对测试的影响。

3 拉手条与机柜之间的搭接不良。

因为拉手条只有一侧安装导电布或者簧片，所以机柜插箱的两侧必须有一侧是平面，另一侧安装导电布或者簧片。测试中发现有的产品插箱上的导电布仅仅是简单的贴在侧面，容易脱落。

4 风扇盒、 电源盒、防尘网同机柜搭接不良。

结构件和机柜主体之间缝隙也往往是造成辐射发射超标的原因。

5 机箱各个部分之间搭接不良。

由于机箱箱是由各个面组成，为了维修和安装方便，通常可以拆卸，分成上盖和主体或者后盖和主体。上盖和主体之间的搭接是结构设计中的难点和重点。我们公司常见的搭接方式是凸包、扣片、加簧片、加导电布等方式。由于要降低成本，我们采用的材料的弹性较差，所以无论是凸包还是扣片，都往往效果并不是很理想。为了拆卸的方便和外观的美观，上壳和主体之间的螺钉也很有讲究：过多影响美观和安装，太少影响屏蔽效果。并且这些缝隙往往很长，对螺钉孔的公差要求必须严格，否则会出现翘曲。