简单的密勒效应的实验电路 |
下图是一个简单的密勒效应的实验电路,可以应用于控制工作电流不大的电路的上电冲击电流。 电路中C1即Cgs,可以防止Vgs抖动,VIN开启通常都是开关或者直接插拔,Cgs有助于消除由于机械抖动导致的Vgs抖动,所以C1不能太小。C2即Cdg,Cdg与一个小电阻串联,主要目的是防止Idg过大,此外上电时,C1和C2有一个交流分压,所以C1最好远大于C2,防止MOS管误开启。D2是一个TVS,防止Vgs过压,导致MOS管闩锁。 三、相关计算 既然是计算,那么面临的问题就是计算什么?我们要利用密勒效应控制冲击电流,那么电流,也就是Ids是我们的计算对象。通过上文我们知道,密勒效应期间MOS管的栅源电压Ugs是保持不变的,那么Ugs就是我们需要计算的对象。 Ugs和Ids,共两个未知数,因此,需要建立两个独立的方程才能求得结果。 方程一 第一个方程来自于MOS管的特性,MOS管是电压控制型器件,由Ugs可以控制Ids,从教科书上可以找到如下公式 , Ids=Ido(Ugs/Ugs(th)-1)^2 上述公式需要两个参数,就是Ido和Ugs(th),获取这个参数最好的方式,就是从MOS管的规格书上找到转移特性曲线,如下图 然后根据实际的Ids和Ugs,挑出两组值,就可以解出Ido和Ugs(th)。也可以用多组值利用数值方法,最小二乘法之类的拟合出一个Ido和Ugs(th)。 有了方程一,Ids和Ugs关系就知道了。 方程二 第二个方程来自于密勒效应,即密勒效应期间,栅源电源Ugs保持不变。 就是dUgs/dt=0,上文推出了Ids/Cds=Idg/Cdg。 此时又多了一个Idg为未知数,但Idg是实际电路电路参数决定的。 分析一下第二节中的电路图。 (Vin-Vsg)/R2-Idg=Vsg/R1 也就是(Vin-Vsg)/R2-IdsCdg/Cds=Vsg/R1,这就是方程二 方程二也说明可以通过电路参数人为控制密勒平台。 实测验证 有示波器和资源的可以焊接一个单板,利用示波器测试,看看与理论计算值是否相符。电源适配器公司验证过,但信息安全比较严,图片什么的就弄不出来了。好希望家里有个示波器。 要想在示波器上看到密勒平台,需要注意两点: 恒流期的Ugs要明显大于稳定时的Ugs(也就是R1和R2分压),太接近就看不出来。 密勒平台持续时间要长,太短就看不出来,也就是恒流对负载电容充电的时间,电容电压高于一定值就会退出恒流区,这就要求要么充电电流小,要么负载电容很大。 文章转载自网络,如有侵权,请联系删除。 |
| 发布时间:2018.06.21 来源:电源适配器厂家 |
上一个:MOSFET密勒效应的计算与分析 | 下一个:薄膜电容的工艺与结构 |
东莞市玖琪实业有限公司专业生产:电源适配器、充电器、LED驱动电源、车载充电器、开关电源等....